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北京CIMT展会第二天

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北京CIMT展会第二天

  • 分类:新闻中心
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  • 发布时间:2025-04-23
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【概要描述】

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北京CIMT展会第二天,公司推出高精度影像测量仪复合探针与激光多技术融合,扩展测量能力。接触式探针与非接触式光学、激光测量,可满足复杂工件的轮廓、平面、高度、孔径等多维度、多功能应用场景,尤其适用于盲孔、深槽等传统光学难以触及的区域,通过激光实现非接触式三维扫描,快速获取表面形貌数据,支持自动对焦、路径规划及批量测量,相比传统单传感器设备效率提升50%以上,多传感器协同、高精度非接触测量及智能化数据处理,显著提升了复杂工件检测的效率和可靠性。

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